PX-375 è un analizzatore automatico progettato per il monitoraggio continuo della qualità dell’aria, con la capacità unica di determinare sia la concentrazione di particolato (TSP, PM10 e PM2,5) sia il contenuto di metalli pesanti nel particolato atmosferico. Combina due tecnologie di analisi in un unico strumento: l’attenuazione della radiazione beta per la misura in tempo reale della massa del PM, e la fluorescenza a raggi X (XRF) per l’analisi quantitativa e qualitativa degli elementi metallici campionati su filtro.
Il particolato viene raccolto su un nastro filtrante in PTFE a doppio strato, garantendo alta purezza del campione. Il modulo di analisi è dotato di detector al silicio SDD e telecamera CMOS per la visualizzazione del campione. Il sistema di campionamento, conforme alle normative LVS, utilizza testate specifiche per frazionare granulometricamente il particolato. L’installazione è semplice: PX-375 può essere montato su rack da 19″ o in configurazione stand-alone, senza necessità di pompe da vuoto o sorgenti di azoto liquido.
L’interfaccia utente è gestita tramite software proprietario, con accesso remoto, visualizzazione grafica dei dati, immagine del campione e salvataggio automatico dei dati in formato CSV.
Specifiche Tecniche
| Parametro | Valore |
|---|---|
| Principio di misura | Attenuazione ß + Fluorescenza a raggi X |
| Portata di campionamento | 16,7 L/min |
| Elementi rilevabili | S, Ti, Cr, Mn, Ni, Cu, Zn, Pb, Al, Si, K, Ca, V, Fe, As |
| Voltaggio XRF | Switch automatico 15kV / 50kV |
| Detector | SDD (Silicon Drift Detector) |
| Tempo di analisi XRF | 1000 s (standard); selezionabile fino a 10000 s |
| Cicli di misura PM | 0.5 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8 / 12 / 24 h |
| Ripetibilità PM | ±2% rispetto alla membrana di riferimento |
| Limite di rilevazione PM (2σ) | ±4 μg/m³ |
| Interfacce | Ethernet, USB, RS-232C (opzionale) |
| Alimentazione | 100–240 V AC, 50/60 Hz, 400 VA |
| Dimensioni | 430 × 560 × 285 mm (esclusa linea e testata di prelievo) |
| Peso | Circa 49 kg |
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